1.get_attribute_value_list [get_pins xx_CORE/u_xx_top/u_sram_wtsel_1_dft_mx/CI1] -name tie_value获取某个pin 的值应该类似dc 工具get_attribute [get_pin *] case_value2.mbist 中添加新测试算法方法3.4.string map 命令用于根据字符映射对字符串进行转换如果指定了-nocase选项则在替换时不考虑大小写差异例如string map {f p d l} foodstring map {f pp d ll oo a} food5获取parent instance可以看到这里的接口控制管脚远远多于简单的memory array的控制需求具体每一个管脚的配置用途详见下表管脚 方向 描述 分类VDD 输入 外围控制器件供电 电源地VDDM 输入 memory array供电 电源地VSS 输入 memory array和外围器件接地 电源地A[*] 输入 地址输入 功能D[*] 输入 数据输入 功能BWEB[*] 输入 位写控制 功能CEB 输入 片选 功能WEB 输入 写控制 功能REDENIO 输入 列修复冗余控制 功能Q[*] 输出 memory array 数据输出 功能FADIO[*] 输入 失效位地址控制 BIST测试DM[*] 输入 BIST数据输入 BIST测试AM[*] 输入 BIST地址输入 BIST测试BWEBM[*] 输入 BIST位写控制 BIST测试CEBM 输入 BIST片选 BIST测试WEBM 输入 BIST写控制 BIST测试BIST 输入 BIST控制 BIST测试DSLP 输入 deep sleep模式memory array访问禁止但是memory数据会被保存 低功耗控制SD 输入 shut down关断全部memory array和绝大部分外设逻辑 低功耗控制PUDELAY_SD 输出 shutdown 输出标记用于指引低功耗策略 低功耗PUDELAY_DSLP 输出 deepsleep 输出标记用于指引低功耗策略 低功耗DSLPLV 输入 deepsleep模式下retention diode的bypass控制 低功耗TSEL pin : WTSEL[]/RTSEL[] 输入 时序微调 测试TSEL pin : WTSEL[]/RTSEL[] 输入 时序微调 测试TSEL pin : WASEN 输入 写辅助使能 测试TSEL pin : WASSEL[*] 输入 写辅助微调 测试6.scan chain 分组步骤7. bsd 如何分组串chain1.读pin_order_file2.划分group8.9.用 tessent shell insert mbist回路在TAP protocal中为什么TCK period一定要是BIST CLK period的4倍?应该是TCK作为BIST_CLK的data pin用如果TCK period 4 x BIST_CLK的话TCKBIST_EN之后就不是一个全period信号导致后面BIST_CLK FF可能踩不到正确值10.merge external fault 到test coverage统计