STM32 ADC电压采集与显示：从配置、滤波到OLED显示的实战指南

发布时间：2026/7/29 9:56:11

1. 项目缘起：从“测个电压”到“稳定显示”的实战思考

最近在调试一个基于STM32的小型数据采集板，核心任务之一就是实时读取一个传感器接口（比如PA1引脚）上的电压，并把它稳定地显示出来。听起来很简单，对吧？不就是配置一下ADC，读个数，然后通过串口或者屏幕显示一下。但真动起手来，你会发现从“能读到数”到“读得准、显示稳”之间，隔着不少细节。比如，你可能会遇到读数跳得厉害，明明电压没变，ADC值却在上下乱蹦；或者屏幕刷新时数字闪烁，看着心烦；又或者想用OLED这种小屏做个简洁的界面，却卡在了驱动和显示逻辑上。

这个项目标题“STM32之ADC(获取某个端口电压并显示)”恰恰点中了嵌入式开发中的一个经典且高频的需求场景。无论是做电池电量监测、环境传感器信号采集，还是简单的电位器调参界面，都绕不开ADC采集与显示这一环。本文的目的，就是以一个具体的PA1端口电压采集与显示为例，抛开那些笼统的理论，直接深入到代码配置、硬件连接、数据处理和显示优化的每一个实操环节，分享我在这类项目中积累的一些“踩坑”经验和“稳如老狗”的调试技巧。无论你是刚接触STM32的新手，还是想优化现有采集系统的老鸟，希望这些接地气的细节能给你带来直接的帮助。

2. 硬件连接与ADC通道配置：从原理图到代码的映射

拿到一个“读取PA1电压”的任务，第一步不是打开Keil写代码，而是先搞清楚硬件上的信号链路。PA1是STM32芯片上的一个GPIO引脚，它可以通过复用功能配置为ADC的输入通道。具体是哪个ADC的哪个通道，需要查芯片的数据手册（Datasheet）。以常见的STM32F103C8T6为例，PA1对应的是ADC1的通道1（Channel 1）。这个映射关系是硬件固定的，写代码时必须匹配。

2.1 信号前端处理：不是所有电压都能直接接

STM32的ADC输入引脚通常只能承受0到3.3V（VREF+电压）的电压。如果你的待测信号范围超出此区间，或者信号源内阻很大，直接连接可能会导致读数不准甚至损坏芯片。

场景一：测量高于3.3V的电压。比如想用STM32监控一个12V的电池电压。这时必须使用电阻分压电路。假设我们用R1=30kΩ， R2=10kΩ串联，接到12V电池两端，从R2上取电压接到PA1。那么PA1测得的电压 V_PA1 = 12V * (R2 / (R1+R2)) = 12V * (10k/40k) = 3.0V，落在了ADC量程内。在代码中，我们需要将这个ADC读数反向换算回真实的电池电压：V_battery = ADC_Value * (3.3V / 4095) * ((R1+R2) / R2)。这里4095是12位ADC的最大数字量（2^12 - 1）。电阻的精度和温漂会直接影响最终测量精度，对于电池电压监测，1%精度的金属膜电阻通常就够了。

场景二：信号源阻抗过高。如果信号来自一个高内阻的传感器（如某些光电管），直接连接ADC会导致采样电容充电时间过长，在ADC的采样保持阶段无法稳定到目标电压，从而引入误差。解决方法是在ADC输入引脚前加一个电压跟随器（运算放大器构成），利用运放高输入阻抗、低输出阻抗的特性进行缓冲。即使不用运放，也建议在PA1引脚到地之间接一个几十到几百皮法的小电容（如100pF），它可以充当电荷池，帮助稳定采样时刻的电压，并滤除一部分高频噪声。

实操连接示例：假设我们测量一个0-3.3V的可调电位器电压。电位器两端分别接3.3V和GND，中间滑动端接PA1。同时，在PA1引脚与GND之间并联一个100pF的瓷片电容。STM32的VDDA（模拟电源）和VSSA（模拟地）务必连接稳定干净的3.3V和GND，最好通过磁珠或小电阻与数字电源隔离，并在靠近芯片引脚处放置10uF和0.1uF的退耦电容。这是保证ADC基准源稳定的关键，很多读数跳动问题根源就在于此。

2.2 CubeMX中的ADC配置详解

使用STM32CubeMX进行初始化可以节省大量时间。关键配置步骤如下：

引脚配置：在Pinout视图找到PA1，将其功能设置为“ADC1_IN1”。
ADC1参数配置：
- Mode：选择“Independent mode”（独立模式）。如果项目需要多ADC同步或交替采样，才会用到其他模式。
- Scan Conversion Mode：如果只扫描PA1这一个通道，设为“Disable”。如果使能，需要配合DMA，适用于多通道自动循环采样。
- Continuous Conversion Mode：连续转换模式。如果希望ADC一次启动后就不停地转换，选“Enabled”。对于单次读取，选“Disabled”，然后在代码中每次触发转换。
- Discontinuous Conversion Mode：不连续转换模式。通常禁用。
- End Of Conversion Selection：转换结束标志选择。通常用默认的“EOC flag at the end of single conversion”（单次转换后置位EOC标志）。
- Data Alignment：数据对齐方式。强烈建议选择“Right alignment”（右对齐）。这样读取到的16位变量ADC_Value的低12位就是有效数据，高4位为0，处理起来非常直观。左对齐在某些计算场景下有用，但更易出错。
- External Trigger Conversion Source：外部触发源。如果不用定时器触发等高级功能，就选“Software trigger”（软件触发）。
ADC通道配置：在“ADC1”的“Configuration”标签页下，进入“ADC Settings”子标签。在“Rank”列表中，添加一个规则通道（Regular Channel）。选择“Channel 1”（对应PA1）。然后设置：
- Sampling Time：采样时间。这是非常关键的参数。它决定了ADC内部采样电容连接外部信号源进行充电的时间。时间太短，电容充电不足，读数会偏低且不稳定；时间太长，则影响转换速率。对于信号源阻抗较高的情况（比如前面说的电位器，输出阻抗可能几kΩ到几十kΩ），需要更长的采样时间。对于STM32F1，采样时间以周期数为单位，可以选择1.5到239.5个周期。我的经验是，对于一般的传感器信号，设置在55.5到239.5个周期是比较稳妥的。可以先设为“239.5 Cycles”，确保读数稳定，再根据实际需求尝试降低以提高速度。
生成代码：配置好时钟树（确保ADC时钟不超过14MHz，对于F1系列）后，生成代码。

注意：CubeMX生成的代码会初始化ADC，但通常不会自动开始转换。你需要调用HAL_ADC_Start()来启动ADC（在连续模式下），或者调用HAL_ADC_Start_IT()启动中断模式，或者调用HAL_ADC_PollForConversion()进行轮询转换。

3. 软件驱动与数据采集：轮询、中断与DMA之争

配置好硬件和基础参数后，接下来就是在代码中获取ADC值。这里有三种主流方式：轮询、中断和DMA。选择哪种，取决于你的应用对实时性、CPU占用率和系统复杂度的要求。

3.1 轮询方式：简单直接，适合低速单次采样

轮询是最简单的方式。在你需要读取电压的时候，启动一次转换，然后等待转换完成，最后读取结果。

// 假设已定义 hadc1 为 ADC1 的句柄 uint32_t adc_value = 0; float voltage = 0.0f; // 启动一次转换 HAL_ADC_Start(&hadc1); // 等待转换完成，超时时间设为10ms if (HAL_ADC_PollForConversion(&hadc1, 10) == HAL_OK) { // 读取转换结果 adc_value = HAL_ADC_GetValue(&hadc1); // 停止转换（如果是单次模式，此调用非必须，但是个好习惯） HAL_ADC_Stop(&hadc1); // 将ADC值转换为电压值 (VREF=3.3V, 12位ADC) voltage = (float)adc_value * 3.3f / 4095.0f; }

优缺点分析：

优点：代码直观，易于理解和调试。不涉及中断优先级等复杂问题。
缺点：HAL_ADC_PollForConversion函数会阻塞CPU，直到转换完成或超时。对于采样时间设为239.5个周期（约17us @14MHz）的情况，阻塞时间很短，可以接受。但如果需要高频采样，或者在等待ADC时系统还有其他任务要处理，阻塞就会成为问题。

适用场景：手动触发采样、上电自检、低速巡检（比如每秒几次）等对实时性要求不高的场合。

3.2 中断方式：异步通知，CPU利用率更高

中断方式允许ADC在转换完成后主动通知CPU，CPU在等待期间可以执行其他任务。

首先，在CubeMX中使能ADC全局中断（NVIC Settings）。然后在代码中：

// 启动ADC中断模式转换 HAL_ADC_Start_IT(&hadc1); // ADC转换完成中断回调函数 void HAL_ADC_ConvCpltCallback(ADC_HandleTypeDef* hadc) { if (hadc->Instance == ADC1) { uint32_t adc_value = HAL_ADC_GetValue(hadc); // 注意：在中断回调里进行浮点运算或复杂处理要谨慎，避免耗时过长。 // 通常只是将数据存入缓冲区或设置一个标志位。 g_adc_raw_value = adc_value; g_adc_data_ready_flag = 1; // 如果需要连续转换，不需要再次调用 Start_IT，因为中断模式会自动重新开始。 // 如果是单次模式，需要在这里重新调用 HAL_ADC_Start_IT 来触发下一次。 } } // 在主循环中检查标志位并处理 if (g_adc_data_ready_flag) { g_adc_data_ready_flag = 0; voltage = (float)g_adc_raw_value * 3.3f / 4095.0f; // ... 进行显示或其他处理 }

优缺点分析：

优点：非阻塞，提高了CPU利用率。响应及时，转换完成即刻进入中断处理。
缺点：增加了中断系统的复杂性。高频采样时，中断频繁进出，消耗的CPU时间可能比轮询等待更多（因为中断有压栈、跳转等开销）。在中断服务程序中进行浮点运算或调用printf等耗时函数是大忌，会严重影响系统实时性。

适用场景：中等频率采样（例如几百Hz到几KHz），且需要在数据就绪后立即进行简单处理的场合。

3.3 DMA方式：解放CPU，应对高速连续采样

这是处理高速、连续、多通道ADC采样的终极利器。DMA（直接存储器访问）可以在ADC转换完成后，自动将数据搬运到指定的内存数组中，完全不需要CPU干预。

在CubeMX中配置：

在ADC1配置中，将“Scan Conversion Mode”设为“Enabled”（因为DMA通常配合多通道或连续扫描）。
在“DMA Settings”标签页，添加一个DMA请求。方向设为“Peripheral To Memory”，模式可以是“Circular”（循环模式，缓冲区满后从头开始，适合持续采集）或“Normal”（正常模式，传输一次后停止）。
生成代码。

软件代码如下：

#define ADC_BUFFER_SIZE 256 uint32_t adc_dma_buffer[ADC_BUFFER_SIZE]; // DMA目标缓冲区 // 启动ADC DMA传输 HAL_ADC_Start_DMA(&hadc1, (uint32_t*)adc_dma_buffer, ADC_BUFFER_SIZE); // DMA传输完成一半或全部完成的中断回调（如果使能了DMA中断） void HAL_ADC_ConvHalfCpltCallback(ADC_HandleTypeDef* hadc) { // 处理前半部分数据 adc_dma_buffer[0...127] } void HAL_ADC_ConvCpltCallback(ADC_HandleTypeDef* hadc) { // 处理后半部分数据 adc_dma_buffer[128...255] // 在循环模式下，处理完数据后，DMA会自动开始下一轮填充，无需重启。 } // 主循环中可以直接访问 adc_dma_buffer 获取最新数据 // 例如，取最近一次转换的值 latest_adc_value = adc_dma_buffer[ADC_BUFFER_SIZE - 1]; voltage = (float)latest_adc_value * 3.3f / 4095.0f;

关键细节与避坑：

缓冲区溢出：在循环模式下，如果CPU处理数据的速度跟不上DMA填充的速度，新数据会覆盖未处理的旧数据。解决方案是使用“乒乓缓冲区”或双缓冲区：准备两个缓冲区，DMA填满A时触发中断，CPU处理A，同时DMA去填充B；B满时触发中断，CPU处理B，DMA回填A，如此循环。
数据对齐：确保DMA接收缓冲区地址对齐，并且数据类型（uint32_t）与ADC数据宽度匹配。使用uint32_t数组是因为HAL库的DMA传输函数参数是uint32_t*，即使ADC是12位，也按32位单元搬运。
内存一致性：如果使用了CPU缓存（在一些高性能MCU中），需要注意DMA操作的内存区域是否被缓存，可能需要配置为“非缓存”或手动进行缓存无效化/清理操作。

适用场景：音频采集、高速数据记录、多通道同步采样（配合ADC的扫描模式）等对实时性和带宽要求高的场合。

我的选择建议：对于“获取某个端口电压并显示”这种项目，如果显示刷新率在10Hz以下，轮询方式最简单可靠。如果希望系统更“流畅”，ADC采样和显示刷新都在一个主定时器中断里协同调度，那么用中断方式更合适。只有当你需要以非常高的速率采样并存储，或者同时采样多个通道时，才需要考虑DMA。

4. 数据处理与滤波：让显示的数字“稳”下来

直接从ADC读出来的原始值，几乎不可能是完全稳定的。电源纹波、数字电路噪声、电磁干扰都会导致读数在小范围内波动。直接把这个波动的值显示出来，屏幕上的数字就会不停跳动，用户体验很差。因此，必须进行数据处理。

4.1 软件滤波算法选型与实践

1. 算术平均滤波这是最常用、最简单的滤波方法。连续采样N次，求和后取平均值。

#define SAMPLE_TIMES 32 uint32_t adc_sum = 0; for(int i=0; i<SAMPLE_TIMES; i++) { adc_sum += get_adc_value(); // 你的ADC读取函数 HAL_Delay(1); // 适当延时，避免采样间隔过短 } uint32_t adc_average = adc_sum / SAMPLE_TIMES;

优点：简单有效，能显著平滑随机噪声。
缺点：速度慢，占用内存（需要存储多次采样值或实时累加）。对于突变的信号反应迟钝。
技巧：N取2的幂次（如4,8,16,32,64），这样最后的除法可以用右移运算>>代替，在无硬件除法的MCU上效率极高。例如adc_average = adc_sum >> 5;等价于除以32。

2. 滑动平均滤波维护一个长度为N的队列（环形缓冲区），每次新采样值进入队列，同时丢弃最旧的值，然后计算队列中所有值的平均值。

#define MOVING_AVG_SIZE 16 uint32_t adc_buffer[MOVING_AVG_SIZE] = {0}; uint8_t buffer_index = 0; uint32_t buffer_sum = 0; // 每次采样后调用 uint32_t new_val = get_adc_value(); buffer_sum = buffer_sum - adc_buffer[buffer_index] + new_val; // 减去旧的，加上新的 adc_buffer[buffer_index] = new_val; buffer_index = (buffer_index + 1) % MOVING_AVG_SIZE; uint32_t filtered_val = buffer_sum / MOVING_AVG_SIZE;

优点：实时性好，每次输出都是基于最近N个点的平均，对信号跟得更紧。内存占用固定。
缺点：同样对突变信号有延迟。需要维护缓冲区和索引，代码稍复杂。

3. 一阶低通滤波（指数加权平均）这是一种非常高效且常用的滤波方法，特别适合MCU。它不需要存储历史数据队列。

float alpha = 0.1f; // 滤波系数，介于0~1之间。越小，滤波效果越强，响应越慢。 float filtered_voltage = 0.0f; // 滤波后的电压值 // 在主循环或定时中断中执行 float new_voltage = (float)get_adc_value() * 3.3f / 4095.0f; filtered_voltage = alpha * new_voltage + (1 - alpha) * filtered_voltage;

原理：当前输出值 = 系数α × 当前输入值 + (1-α) × 上一次输出值。它相当于给历史数据一个指数衰减的权重。
优点：计算量极小（一次乘法和一次加法），内存占用极少（只需保存上一个输出值）。可以通过调整α在平滑度和响应速度之间取得平衡。
缺点：对于脉冲干扰的抑制不如平均滤波。α的选择需要根据采样周期和信号特性来调试。
参数调试经验：α ≈ (采样周期T) / (滤波时间常数τ)。例如，你希望滤除100Hz以上的噪声（τ≈0.01s），采样周期是0.001s（1kHz），那么α ≈ 0.001/0.01 = 0.1。可以从0.1开始尝试，观察显示效果。

4. 中值滤波取最近N次采样值，排序后取中间值。对于偶发性的尖峰脉冲干扰（例如开关动作引起的毛刺）有奇效。

#define MEDIAN_SIZE 5 // 通常取奇数 uint32_t window[MEDIAN_SIZE]; // ... 维护一个滑动窗口 ... // 排序 window (可以使用简单的冒泡排序，因为N很小) // filtered_val = window[MEDIAN_SIZE/2]; // 取中值

优点：能有效滤除椒盐噪声，保护数据不受个别异常值影响。
缺点：需要排序，计算量相对较大。不适合实时性要求极高的场景。通常与平均滤波结合使用（如：先中值滤波去掉野点，再平均滤波平滑）。

我的实战策略：在显示电压的项目中，我通常采用“一阶低通滤波”。它的平滑效果足够好，代码简单，对STM32F103这类资源有限的芯片非常友好。将α设置为0.05到0.2之间，显示的数字就会非常稳定，同时又不会感觉有明显的延迟。如果发现偶尔有跳变的毛刺，可以在进行一阶滤波之前，先对原始ADC值做一个限幅滤波：如果本次采样值与上次值的差超过一个阈值（比如对应0.1V的变化），则认为可能是干扰，直接丢弃或用上次值代替。

4.2 标定与校准：提高绝对精度

滤波解决了“稳”的问题，但“准”的问题还需要标定。我们计算电压的公式V = ADC_Value * 3.3 / 4095基于两个理想假设：1. 参考电压VREF+精确等于3.3V；2. ADC没有零漂和增益误差。

实际上，单片机的3.3V电源可能有±5%的偏差，ADC本身也有误差。对于要求不高的场合，可以忽略。但如果需要较高精度，就需要校准。

两点校准法：

准备两个精确的参考电压源，例如0V（短路到地）和3.000V（使用基准电压芯片如TL431提供）。
将0V接入PA1，读取ADC值，记为ADCL。
将3.000V接入PA1，读取ADC值，记为ADCH。
计算斜率k和截距b：k = 3.000 / (ADCH - ADCL)b = -k * ADCL(或者b = 0 - k * ADCL)
对于任何未知电压的ADC读数ADCx，其真实电压为：V_real = k * ADCx + b

可以将k和b作为常数保存在代码或Flash中。这个方法可以消除ADC的零点误差和增益误差，以及参考电压不准带来的影响。

5. 显示模块集成与界面优化

电压值计算出来后，需要显示给人看。显示方式多种多样，这里以最常用的串口打印和OLED屏幕为例。

5.1 串口打印：最快速的调试显示

在开发阶段，通过串口将电压值打印到电脑的串口助手上，是最直观的调试方式。

#include <stdio.h> // ... 重定向printf到串口代码 ... float filtered_voltage = ...; // 经过滤波和校准后的电压值 printf("Voltage: %.3f V\r\n", filtered_voltage); HAL_Delay(200); // 控制打印频率，避免刷屏

注意：频繁调用printf（尤其是浮点数格式化）会消耗大量CPU时间和栈空间。在正式产品中应避免。可以优化为定点数整数打印，或者仅在需要时打印。

5.2 OLED显示（以SSD1306 I2C为例）：打造嵌入式UI

OLED显示美观、省电，是很多嵌入式产品的选择。

1. 驱动移植：网上有丰富的SSD1306驱动代码（如OLED.c和OLED.h）。你需要根据使用的MCU和I2C引脚，修改底层的I2C_WriteByte函数，通常就是调用HAL库的HAL_I2C_Master_Transmit。确保I2C时钟配置正确（通常400kHz）。

2. 显示电压值：核心是调用OLED的字符串显示函数。但直接显示浮点数printf到字符串再显示，在MCU上效率低。推荐使用定点数显示。

// 假设 filtered_voltage = 2.456V uint16_t voltage_int = (uint16_t)(filtered_voltage * 1000); // 转换为毫伏整数 2456 uint8_t buf[10]; sprintf((char*)buf, "%d.%03d", voltage_int / 1000, voltage_int % 1000); // "2.456" // 或者手动拆分，避免sprintf buf[0] = '0' + (voltage_int / 1000); // 整数部分 buf[1] = '.'; buf[2] = '0' + ((voltage_int % 1000) / 100); // 十分位 buf[3] = '0' + ((voltage_int % 100) / 10); // 百分位 buf[4] = '0' + (voltage_int % 10); // 千分位 buf[5] = 'V'; buf[6] = '\0'; OLED_ShowString(30, 20, buf, 16); // 在指定坐标显示字符串

3. 界面防闪烁与局部刷新：直接全屏清屏（OLED_Clear）再重绘所有内容，会导致屏幕闪烁。优化方法是局部刷新。

静态部分：如标题“Voltage:”、单位“V”、边框等，只在初始化时绘制一次。
动态部分：即变化的数字。在更新数字前，先用背景色（黑色）在旧数字的位置重绘一次，相当于“擦除”旧数字，然后再绘制新数字。这样就只有数字区域在变化，避免了全屏闪烁。

// 假设旧数字显示在 (30, 20)，字体大小8x16 OLED_ShowString(30, 20, " ", 16); // 用空格覆盖旧内容，宽度根据数字最大长度预留 OLED_ShowString(30, 20, buf, 16); // 绘制新数字

4. 添加进度条或模拟表盘：纯数字显示不够直观，可以增加一个简单的水平进度条来形象化表示电压占满量程（如3.3V）的比例。

#define BAR_MAX_WIDTH 100 // 进度条最大像素宽度 #define BAR_MAX_VAL 3.3f // 电压满量程 uint8_t bar_length = (uint8_t)((filtered_voltage / BAR_MAX_VAL) * BAR_MAX_WIDTH); // 绘制进度条背景（白色矩形框） OLED_DrawRectangle(10, 40, 10+BAR_MAX_WIDTH, 48); // 绘制进度条填充（反白填充内部） OLED_Fill(11, 41, 11+bar_length, 47, 1); // 1表示点亮像素

这样，电压变化时，进度条的长度也会随之变化，视觉效果更好。

6. 系统整合与稳定性提升实战

将ADC采集、滤波处理和显示刷新这几个模块整合到一个稳定的系统中，需要合理的任务调度和时序控制。盲目地在主循环里不停地采样和刷新，不仅效率低，还可能因为时序混乱导致显示卡顿或采样不匀。

6.1 基于定时器的节奏控制

我推荐使用一个基本定时器（如TIM6/TIM7）来为整个系统提供“心跳”。假设我们设定定时器中断频率为100Hz（10ms一次）。

在定时器中断服务函数中：

void HAL_TIM_PeriodElapsedCallback(TIM_HandleTypeDef *htim) { if (htim->Instance == TIM6) { static uint8_t adc_sample_cnt = 0; static uint8_t display_refresh_cnt = 0; // 任务1：每2个中断（20ms）采样一次ADC，即50Hz采样率 adc_sample_cnt++; if (adc_sample_cnt >= 2) { adc_sample_cnt = 0; // 启动一次ADC转换（假设用轮询或中断方式） start_adc_conversion_and_get_value(); // 此函数会更新全局的 filtered_voltage } // 任务2：每10个中断（100ms）刷新一次显示，即10Hz刷新率 display_refresh_cnt++; if (display_refresh_cnt >= 10) { display_refresh_cnt = 0; g_display_update_flag = 1; // 设置显示更新标志 } } }

在主循环中：

while (1) { if (g_display_update_flag) { g_display_update_flag = 0; update_oled_display(); // 调用OLED显示更新函数 } // 其他低优先级任务，如按键扫描、通信处理等 HAL_Delay(1); }

这种架构的好处是：

采样率固定且已知：便于设计滤波器参数（如一阶低通滤波的α）。
显示刷新率稳定：避免了因主循环执行时间不确定导致的显示卡顿。
模块解耦：ADC采样和显示刷新在时间上错开，互不阻塞。

6.2 抗干扰与硬件布局心得

即使软件做得再好，硬件布局不当也会引入噪声。

电源隔离：给模拟部分（VDDA、VSSA）的供电，尽量通过磁珠或0欧电阻从数字电源分离。在VDDA和VSSA引脚附近，务必放置一个10uF的钽电容和一个0.1uF的瓷片电容。
信号走线：ADC输入线（PA1的走线）应远离高频数字信号线（如时钟线、PWM输出线）。如果可能，用地线包围或采用屏蔽线。
接地：模拟地和数字地单点连接。通常可以在MCU下方，将VSSA和VSS通过一个0欧电阻或磁珠连接。
测试技巧：当怀疑是电源噪声时，可以尝试用外部干净的线性稳压源（如LM1117-3.3）单独给VDDA供电，看读数是否变得稳定。这是一个非常有效的排查手段。